Įprastinė teigiamos PS plokštės gamybos proceso patikra
Mes esame didelė spausdinimo įmonė Shenzhen Kinijoje. Siūlome visus knygų leidinius, knygų spausdinimą, popieriaus spausdinimą, nešiojamą nešiojamąjį kompiuterį, knygų spausdinimą, knygų spausdinimą, knygų spausdinimą, pakuotės dėžutę, kalendorius, visų rūšių PVC, gaminių brošiūras, pastabas, vaikų knygą, lipdukus, visus rūšių specialios popieriaus spalvos spausdinimo produktai, žaidimų kortelės ir pan.
Norėdami gauti daugiau informacijos, apsilankykite
http://www.joyful-printing.com. Tik „ENG“
http://www.joyful-printing.net
http://www.joyful-printing.org
el. paštas: info@joyful-printing.net
Pastaraisiais metais sparčiai vystėsi Kinijos PS versijos technologija, o gamyba ir toliau augo. Rinkos klestėjimas neišvengiamai sukels didelę konkurenciją rinkoje. Jei gamintojo PS versija nori užimti stabilią rinkos dalį, ji turi užtikrinti savo produktų kokybę ir reputaciją. Todėl labai svarbu užtikrinti produktų kokybę PS versijos gamybos procese. Todėl PS versijos kokybės kontrolė pasiekiama kai kuriais iš šių įprastinių testų.
Žaliavų bandymai
Teigiamą PS plokštę sudaro šviesai jautrus sluoksnis ir aliuminio plokštės pagrindas. Žaliavos, paprastai naudojamos PS gamybos įmonėse, gali būti suskirstytos į keturis aspektus:
1) įvairios žaliavos, reikalingos šviesai jautriam skysčiui ruošti;
2) įvairios žaliavos, reikalingos aliuminio plokščių pagrindo procesams, kad atitiktų spausdinimo reikalavimus;
3) aliuminio plokštės bazė, reikalinga teigiamai PS plokštės atramai;
4) PS versijos vandens gamybos kokybė.
Siekiant stabilizuoti gaminių kokybę prieš įsigyjant žaliavas, žaliavų tiekėjams pateikiami reikiamų medžiagų techniniai veiklos rodikliai pagal gamybos reikalavimus; įsigytos žaliavos turi būti analizuojamos ir išbandytos pagal pagrindinius jų techninius rodiklius.
1. Įvairių žaliavų, reikalingų šviesai jautriems skysčiams, analizė ir aptikimas
Teigiamas PS plokštelės jautrus skystis daugiausia susideda iš šviesai jautrios dervos, plėvelės formavimo dervos, dažiklio, tirpiklio ir kitų pagalbinių medžiagų.
1) 2.1.5-sulfonilchlorido savybių nustatymas
2.1.5-sulfonilchloridas yra oranžinės geltonos spalvos kristalas šviesai jautrios dervos sintezei.
1 Lydymosi temperatūros nustatymas. Kietos medžiagos lydymosi temperatūra reiškia temperatūrą, kurioje medžiaga pasiekia pusiausvyrą atmosferos slėgyje ir kietoje būsenoje bei skystoje būsenoje. Labai gryna medžiaga, turinti barometrinį slėgį, yra labai ryškus pokytis tarp kietų ir skystų būsenų, nuo pradinio lydymosi iki pilnos lydymosi temperatūros nesikeičia daugiau kaip 1 ° C; jei priemaišos, lydymosi temperatūra mažėja, lydymosi temperatūros intervalas plečiamas. Todėl junginio grynumas gali būti vertinamas matuojant lydymosi temperatūrą.
2 2.1.5 sulfonilchlorido kiekio nustatymas. 2.1.5-sulfonilchlorido kiekis turi didelę įtaką šviesai jautrios dervos jautrumui šviesai. Šiuo metu įvairių gamintojų pagamintas 2.1.5-sulfonilchlorido grynumas yra didesnis, o jo kiekis yra didesnis nei 98%. Tačiau, siekiant sintezuoti stabilią šviesai jautrią dervą, reikia išmatuoti 2.1.5-sulfonilchlorido kiekį. Lengviausias ir tiksliausias būdas nustatyti 2.1.5-sulfonilchlorido kiekį yra naudoti ultravioletinį spektrofotometrą vidaus UV spektrofotometro nustatymui.
3 Ultravioletinės absorbcijos spektro nustatymas. Didžiausias 2.1.5-sulfonilchlorido absorbcijos bangos ilgis gali būti nustatomas ultravioletiniu spektrofotometru.
2) Plėvelės formavimo dervos nustatymas
Plėvelę formuojanti derva yra daugiausia linijinė fenolio derva ir yra polimero junginys.
1 Molekulinės masės ir molekulinės masės pasiskirstymo nustatymas. Polimerinis junginys susideda iš daugelio skirtingų dydžių molekulių, o skirtingos molekulės užima skirtingas proporcijas. Molekulinės masės pasiskirstymo plotis ir plotis turi didelę įtaką jautrumui ir skyrimui. Fenolio dervos skaičiaus vidutinė molekulinė masė (Mn), vidutinė molekulinė masė (Mw) ir molekulinės masės pasiskirstymas gali būti lengvai ir tiksliai nustatomi gelio skvarbos chromatografija (GPC).
2 Klampumo nustatymas. Plėvelę formuojančios dervos klampumas gali būti matuojamas sukamuoju viskometru.
Be pirmiau minėtų dviejų bandymų, reikia išmatuoti dervos lydymosi temperatūrą.
3) Tirpiklio drėgmės kiekio nustatymas
Be nedidelio skaičiaus PS gamintojų šalyje, norėdami paruošti šviesai jautrią skystį su etileno glikolio monoetilo eterio, metilo etilketono, esterių ir tt mišiniu, dauguma gamintojų naudoja tik etileno glikolio monoetileterį kaip tirpiklį. Vis dėlto, naudojant daugiakomponentį tirpiklį arba vieno komponento tirpiklį, tirpiklio kiekis tirpiklyje turi būti nustatytas naudojant Karl Fischer automatinį titratorių.
2. Pagrindinio apdorojimo technologijos analizė
Teigiamas proceso pagrindinės apdorojimo proceso PS variantas yra:
Aliuminio ritės atsukimas → šarminis plovimas → elektrolizė → oksidacija → hidrofilizacija
1) Šarminis plovimas
Nuimkite riebalų ir natūralių oksido plėvelę ant aliuminio plokštės paviršiaus.
2) Elektrolizė
Ant aliuminio plokštės paviršiaus susidaro smėlio tinklelis, kad padidėtų paviršiaus plotas, kad būtų pagerintas ne vaizdo srities hidrofilumas ir aliuminio plokštės sukibimas su šviesai jautriu sluoksniu.
3) Oksidacija
Ant elektrolitinio aliuminio plokštės susidaro kieta AI2O3 plėvelė, kuri pagerina spausdinimo plokštės atsparumą dilimui, atsparumą korozijai ir stabilumą.
4) Hidrofilinis gydymas
AI2O3 plėvelės adsorbcija ant šviesai jautraus sluoksnio sumažėja, pagerėja ne vaizdo srities hidrofilumas, o AI2O3 ir Al tirpumas besivystančiame tirpale sumažėja.
Neorganinių rūgščių ir neorganinių bazių kiekis žaliavose, naudojamose bazinio apdorojimo proceso PS versijoje, buvo nustatytas tūrio analizės metodu. Matuojant natrio hidroksido kiekį, nes pramoniniame natrio hidrokside yra nedidelis natrio karbonato kiekis, natrio karbonatas pirmiausia turi būti paverstas cezio karbonato nuosėdomis ir po to analizuojamas.
3. Aliuminio mikroelementų kokybinė ir kiekybinė analizė
Aliuminio plokštės pagrinde paprastai yra nedidelis mikroelementų kiekis. Mikroelementų kokybinį ir kiekybinį nustatymą galima nustatyti atominės absorbcijos spektrometrija. Atominės absorbcijos analizės metodas pasižymi dideliu jautrumu, geru pakartojamumu, paprastu ir greitu veikimu, bet prietaiso kaina. Aukštesni gamintojai gali reguliariai eiti į fizinį ir cheminį bandymų centrą.
4.Pasirinkimo vandens analizės ir bandymų versija
PS plokščių gamybos procese reikia daug vandens, pageidautina dejonizuoto vandens, nes katijonai ir anijonai vandenyje turės tam tikrą poveikį PS plokštei, pavyzdžiui, halogeniniai jonai gali korozuoti oksido plėvelę, kad gautų mažas skyles.
Dejonizuotas vanduo gali būti paruoštas jonų mainų metodu. Laidumas gali būti matuojamas laidumo matuokliu. Kiekvienas gamintojas gali nustatyti laidumo vertę pagal savo gaminamo vandens kokybės reikalavimus ir atlikti reguliarius matavimus.
Produkto kokybės kontrolės bandymai
Siekiant įvertinti produkto kokybę, be tam tikrų produkto savybių, ji taip pat turi turėti gerą pakartojamumą ir stabilumą. Gamintojai turėtų turėti griežtus įmonių standartinius duomenis, kad būtų galima kontroliuoti produkto kokybę.
1. Tirpalo tirpalo koncentracijos nustatymas
Plokštės pagrindo apdorojimo procese naudojamo tirpalo koncentracijos nustatymas dažniausiai atliekamas naudojant elektroninį aptikimą, o kiekvieno tirpalo, naudojamo apdorojant plokšteles, koncentracija periodiškai kiekybiškai išbandoma gamybos procese, kad būtų pasiektas nurodytas kiekis. indeksas. Tuo pačiu metu reikia nustatyti Al3 + kiekį naftos, elektrolitų ir oksiduojančiame tirpale. Koncentracijos bandymai gali būti atliekami naudojant paprastą, greitą rūgšties ir bazės titravimo analizę, o geros būklės įmonės gali įdiegti internetinius detektorius. Šiuo metu internetinės testavimo priemonės vidaus rinkoje pagamintos PS versijos tikslumas nėra per didelis ir naudojamas tik kaip nuoroda. Faktinis internetinis automatinis aptikimo įrankis patvirtina elektrocheminės analizės metodą, kurio tikslas - nustatyti kiekvienos medžiagos turinį, naudojant cheminės sudėties ir įtampos, srovės, laidumo ir kt. Kiekybinį ryšį cheminės energijos ir elektros energijos konversijos procese.
2. Aptikti gaminio kokybę
1) „Edition“ našumo tikrinimas
1 paviršiaus šiurkštumas. Paviršiaus šiurkštumas matuojamas paviršiaus šiurkštumo testeriu ir paprastai vertinamas pagal techninius parametrus, tokius kaip Ra, Rz ir Sm, kur
Ra - kontūro poslinkio absoliučios vertės aritmetinis vidurkis mėginio ilgyje;
Rz - penkių didžiausių kontūro smailių aukščių vidurkis mėginių ėmimo ilgyje ir penkių didžiausių kontūro slėnių gylio vidurkis;
Sm - mikroskopinių pažeidimų intervalo vidurkis mėginio ilgyje.
Kontūro smailės D tankį galima apskaičiuoti pagal Sm:
D = L / Sm, kur L yra mėginio ilgis.
2 oksido plėvelė. Oksidinės plėvelės įvertinimo privalumai daugiausia priklauso nuo oksido plėvelės vientisumo ir kompaktiškumo, kristalo struktūros ir oksido plėvelės storio.
a. Sąžiningumo ir kompaktiškumo tikrinimas
Oksido plėvelės vientisumas ir kompaktiškumas nustatomas vario sulfato tirpalu. Rūgštinėmis sąlygomis vario jonai reaguoja su aliuminiu ir neveikia AI2O3. Kai aptikimo zonoje yra atvira aliuminio bazė arba oksido plėvelė, vario sulfato tirpalo vario jonai patiria defektą su aliuminiu ir tuo pačiu metu išsiskiria dujos ir juodas vietoje gali būti stebimas oksido plėvelės defektas. buvimas.
b. AI2O3 kristalų formos nustatymas
Kai elektronų mikroskopu pastebima AI2O3 kristalinė struktūra, galima nustatyti kristalinės formos būseną ir, jei grotelių defektai yra maži, oksido plėvelė yra puiki.
c. Oksido plėvelės storio nustatymas
PS plokštės oksido plėvelės storis turi didelę įtaką spausdinimo veikimui. PS plokštelių oksido plėvelės storis išreiškiamas Al2O3 masės ploto vienetais (g / m2) pagal "teigiamo vaizdo plokštelės chemijos pramonės standartą, HG / T2694, matuojamas -95 nurodytu metodu".
2) Fotografinio sluoksnio fizikinių ir cheminių savybių bandymai
1 Šviesos jautrumo sluoksnio storio nustatymas. Šviesos jautrumo sluoksnio storis turi įtakos lipofilumui, šviesai jautrumui, skyrimui, spausdinimo ilgaamžiškumui ir vaizdo efektui, o jo storis turi būti griežtai kontroliuojamas tam tikru intervalu. Šviesos jautrumo sluoksnio storis išreiškiamas šviesai jautraus sluoksnio ploto vienetais (g / m2) ir matuojamas pagal metodą, nurodytą „Pramoninio tipo PS chemijos pramonės standarte, HG / T2694-95“.
2 jautrus sluoksnio atsparumas šarmų sulaikymo plėvelės savybėms. Šviesos jautrumo sluoksnio anti-šarminės plėvelės sulaikymo savybė turi didelę įtaką plokštės skiriamumui ir spausdinimo ilgaamžiškumui. Atsparumas šarmams daugiausia susijęs su šviesai jautraus sluoksnio tirpumu kūrime ir yra išreiškiamas atspariu šarmų plėvelės sulaikymo greičiui. Šarminiam poveikiui atsparaus plėvelės sulaikymo santykis yra šviesai jautraus sluoksnio (W1) masės vieneto ploto santykis (W2 / W1) iki likusio šviesai jautraus sluoksnio svorio W2 po panardinimo į šarminį tirpalą. Galima nustatyti šarmams atsparios plėvelės, atitinkančios skirtingas PS plokštelės ekspozicijos vertes, efektyvumą, o teigiamai veikiančios PS plokštės šviesai jautrių savybių skirtumą galima geriau išreikšti.
3) Fotografijos efektyvumo nustatymas
Teigiamo PS plokštės jautrumo sluoksnio jautrumo nustatymas apima tokius elementus kaip PS plokštės jautrumas, skiriamoji geba, gama ir fono spalva.
1 jautrumas. Jautrumas reiškia šviesai jautrios medžiagos jautrumą, ty šviesos greitį ir PS plokštės jautrumą išreiškia ekspozicijos suma. Kuo mažesnė sąlyčio suma, reikalinga tam, kad pasiektų tam tikrą tankį (šviesos energija, kurią sugeria šviesai jautri medžiaga), tuo didesnis jautrumas; kuo didesnė sąlyčio suma, tuo mažesnis jautrumas.
2 rezoliucija. Rezoliucija reiškia šviesai jautraus sluoksnio gebėjimą atskirti smulkų originalo sluoksnį po tam tikro poveikio.
Gama 3PS versija. Gama yra svarbus PS plokštės parametras. Gama yra didelė, ekspozicijos perėjimo sritis yra maža, o vaizdo krašto tankio praradimas yra mažas. Vaizdas yra aiškus, taškų sumažinimas ir skiriamoji geba yra geros, ekspozicijos platuma yra didelė, o spausdinimo ilgaamžiškumas yra didelis. Fotosensityvus aptikimas paprastai matuojamas kontaktuojant su nepertraukiamu reguliavimo etapu ir signalo juostele, liečiančia PS plokštę, ir po to, kai atsiranda.
4 išdėstymo fonas. Išdėstymo fono spalva (D0) matuojama atspindžio densitometru. Normaliomis sąlygomis D0 ≤ 0,03.
3. Paviršinio dujų kreipiamojo sluoksnio aptikimas
Šiuo metu šalyje pagaminta PS plokštė padidino matinio dujų kreipiamąjį sluoksnį, taip pagerindama taškų mažinimą ir sumažindama siurbimo laiką. Siekiant užtikrinti dangos stabilumą, būtina nustatyti matavimo medžiagos kokybę vieneto plote ir siurbimo metu. Siurbdami, naudokite taškinį plėvelę ir PS plokštę, kad susisiektumėte su siurbliu, ir laikykitės dulkių siurbimo laiko.
Galutinio produkto išvaizdos patikrinimas
Paskutinis PS plokščių gamybos procesas yra akivaizdus patikrinimas, daugiausia žiūrint į PS plokštės paviršiaus dangos vientisumą, ar išdėstymas yra plokščias, su raukšlėmis, pūslėmis, baltomis dėmėmis ir nešvariomis dėmėmis. Pagal pakuotės reikalavimus pakuotė yra klasifikuojama ir išsiunčiama.